INM

Comunicate de presă

Cerințele pentru încercările de competență – mai clare cu suportul experților TAIEX

Accesări: 5. Publicat:11.06.2018

Chiar în aceste momente, personalul INM participă la seminarul intitulat „Evaluarea conformității. Cerințe generale pentru încercările de competență în domeniul metrologiei”. Instruirea este organizată de INM cu suportul TAIEX - instrumentul Comisiei Europene de asistență tehnică și schimb de informații.

La eveniment participă, de asemenea, reprezentanți ai Ministerului Economiei și Infrastructurii și ai laboratoarelor metrologice din țară.


   





Baner metrologie aplicata
Baner metrologie legala